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它表征儀器分辨M和M+AM兩個(gè)相鄰峰的能力，通常用M/AM表示。由于作為殘氣分析的真空質(zhì)譜計(jì)不需要很高分辨本領(lǐng)，所以，通常在10%或50%峰高處確定參考基線來測(cè)量AMo特殊使用條件下，可在5%或1%峰高處確定參考基線來測(cè)量AMo由于峰形對(duì)分辨本領(lǐng)測(cè)量影響很大，僅用50%峰高處的參...
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