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背壓法檢漏廣泛用于對封離電子器件、半導體器件等密封件的無損檢漏。檢漏時將被檢件在充有高壓示漏氣體（氦氣或氦氣和其它氣體的混合氣）的容器內存放一定時間，如果被檢件有漏孔，示漏氣體便通過漏孔進入被檢件內部。再...
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